本文提出了一种基于ARM嵌入式微处理器和复杂可编程逻辑器件( CPLD) 的检测系统硬件可重构设计方法。这种结构检测系统既具有ARM微控制器体积小、集成度高、运算速度快、存储器容量大、功耗低等特点; 又具有CPLD强大的高速逻辑处理能力和方便灵活的动态可重构性,将两者结合起来使用能克服传统检测仪器的不足, 可将许多复杂的实时控制算法硬件化,减轻了MCU的负担,减少逻辑控制芯片的使用, 具有可靠性强、可重用性好性价比高突出优点。