在过去的几十年里,软件定义的射频测试系统架构已经成为主流。如今,几乎所有商业现成的(COTS)自动化射频测试系统都使用应用软件通过总线接口与仪器进行通信。射频应用变得越来越为复杂,工程师们正面临增强功能性且不增加测量次数与成本的两难。尽管在测试测量算法、总线速度和CPU速度上的提高减少了测试次数,但仍需要进一步改善以应对不断复杂化的射频测试应用。 在商用现成的射频测试仪器中增加现场可编程门阵列(FPGA)的使用,可以满足对于速度和灵活性的需求。在高层中,FPGA是可编程的硅芯片,可以通过软件开发环境的配置来实现自定义硬件功能。虽然在射频仪器中使用FPGA是一个很好的创举,但通常这些FPG