摘要:晶振是遥控器控制电路中最关键的零部件之一,起着举足轻重的作用,而晶振的过早失效是造成遥控器故障的主要原因之一。本文从遥控器的工作原理和晶振的工作原理、失效模式及失效分析出发,阐述遥控器晶振寿命筛选电路的设计,来进行晶振寿命筛选,达到对晶振质量的控制。 1 引言 从市场故障遥控器技术分析情况来看,遥控器主要质量问题的表现是:遥控器在上电复位检查时,遥控器液晶显示器字符有一定规则的缺显,同时遥控器不开机;通过测量检查是电路不振荡,经实际统计电路不振荡大多是32.768kHz晶振过早失效所致。从零部件进厂检验角度看,需要对晶振进行长时间的寿命筛选试验,来有效地控制晶振过早失效,提高