存储器是电路系统中最常用的器件之一,采用大规模集成电路存储芯片构成。实际统计表明,存储器在太空应用中的主要错误是由瞬态错误(也叫单个事件扰动,SEU)所引起的一位错[1]或者相关多位错,而随机独立的多位错误极少。半导体存储器的错误大体上分为硬错误和软错误,其中主要为软错误。硬错误所表现的现象是在某个或某些位置上,存取数据重复地出现错误。出现这种现象的原因是一个或几个存储单元出现故障。软错误主要是由α粒子引起的。存储器芯片的材料中含有微量放射性元素,他们会间断地释放α粒子。这些粒子以相当大的能量冲击存储电容,改变其电荷,从而引起存储数据的错误。引起软错误的另一原因是噪声干扰。同时在太空环境下,在