提高精度已成为最早期矢量网络分析仪(VNA)测量的目标。通过校准和矢量误差校正技术,可以将VNA精度从仪器端口扩展到测试电缆的端点。当待测器件(DUT)直接连接到测试端口电缆时,校准面和测量面是同一平面。在这种情况下,校准和误差校正是直截了当的过程,其涉及机械或电子同轴校准标准。然而,对引脚贴装或表面贴装封装的DUT而言,必须使用测试设备,而目前同轴校准平面和测量平面是分开的,并需要额外的误差校正技术来达到高测量精度。这些方法经常采用装置的建模响应,来有效地将校正平面移至DUT的端口。部分工程师则选择采取最小影响的测试设备,并仅仅测量DUT和设备的总响应。本文讨论了两种基于模型的校正,其增加了