由于大型电子设备在进行电磁兼容(EMC)性考核时,很难进入屏蔽室进行而只能在室外开阔场地进行,从而难以控制测试时的环境背景噪声电平,使测试结果出现很大误差。如何区分背景噪声信号,鉴别出受试设备发出的被测信号一直是EMC测试中的一个难题。在各种不同的背景信号中,同频干扰与被测信号无法通过频谱进行分离,本文的目的就是想用空间分离技术,通过适当的测试方法,对于任意方向的同频干扰信号进行有效的拟制,从而得到有效的测试结果。