随着科学技术的快速发展,特别是数字技术及各种超大规模集成电路的广泛应用,电子装备尤其是军用电子装备结构越来越复杂,功能越来越完善,自动化程度也越来越高。虽然电子系统的性能得到提高,但是对测试和维修保障也产生了测试流程复杂、测试时间长、维修保障困难、维修费用高等诸多问题,这些问题严重影响了电子设备的完好性和寿命周期。