1 前言 静电放电(ESD,electrostatic discharge)是电子工业最花代价的损坏原因之一,它会影响到生产合格率、制造成本、产品质量与可靠性以及公司的可获利润。随着IC产品的制造工艺不断微小化,ESD引起的产品失效问题越来越突出。为了能够了解我们所制造的IC产品的抵抗静电打击的能力,提升产品的质量,减少因ESD而引起的损伤,世界各地的IC工程师们研制出了许多静电放电模拟器,用来模拟现实生活中的静电放电现象,用模拟器对IC进行静电测试,借以找出IC的静电放电故障临界电压。本文就是结合我们现在使用的静电放电模拟器(ZapMaster)详细介绍静电放电的测试过程。