输入失调电压的开环测试

有没有一种既高效又便宜的方法达到我们的目的呢?当然有,这就是SEPIC拓扑结构。

实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五

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利用matlab进行的悬浮仿真，开环的系统，方便开发

PMSM的开环仿真程序，经过简单的测试，有不足的地方多交流

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