在实际的DFT设计中,存在对测试覆盖率有较大损害的两种情况:一种存在于数字逻辑-模拟逻辑(包括存储器)输入-输出处之阴影部分,另一种存在于特定的多芯片封装情况下未绑出的输入-输出焊垫处。二者的共同点在于:测试模式下部分逻辑的不可控或不可观测。