正交试验设计法在RFID系统性能测试中的运用

当前RFID的行业应用大量涌现,而不同的行业及不同的应用对应着不同的环境,不同环境会对整个RFID系统的性能有很大影响,很多RFID系统工作在较严苛的环境中,设计不当极有可能导致整个RFID系统无法有效运行。本文利用正交试验设计方法对RFID系统性能进行测试,并应用多元线性回归方法分析获得最优的方案参数。