EDA/PLD中的FPGA 电路动态老化技术研究

摘 要:近年来,随着FPGA 电路在军工和航天领域的广泛应用,用户对FPGA 电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性*估试验中,动态老化试验是最重要的试验之一,FPGA 动态老化技术的实现可以提高FPGA 电路的可靠性。文章通过研究FPGA 电路内部结构和功能模块,讨论FPGA 电路加载配置过程的原理和流程,通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析,研究出FPGA 电路动态老化试验方法,并在工程实践中得到了成功实现和应用。 1 引言 FPGA 是现场可编程门阵列(Field ProgrammingGate Array)的缩写,用户可以编写程序对FPGA 内部的逻辑模块和