1 引言 随着半导体工艺的发展,片上系统SOC已成为当今一种主流技术。基于IP复用的SOC设计是通过用户自定义逻辑(UDL)和连线将IP核整合为一个系统,提高了设计效率,加快了设计过程,缩短了产品上市时间。但是随着设计规模的增大,集成密度的提高,IP引脚的增多,IP的植入深度加大必然使得测试验证工作繁重。据统计,在SOC设计中,各种内核的测试验证工作所用的时间占整个设计过程的60%~80%,SOC及IP核的测试验证已成为SOC技术发展的瓶颈。如何在最短的时间内高效迅速地通过IP核验证与测试.并把其集成在SOC中成为业界关注的焦点和研究领域急待突破与实现的方向。 基于IP核复用的SO