基础电子中的宽范围高稳晶振频率稳定度测试系统的设计

0 引 言 高稳定度石英晶体谐振器(简称高稳晶振)是广泛应用于通讯、电子对抗、数传电台、计算机等电子信息产品的重要器件。高稳晶振的指标直接影响产品的可靠性,因此如何检测其性能是非常重要的。 代表性测量仪器是频稳测试系统(误差倍增器+多路开关)。其原理是将被测频率源的频率起伏△f进行倍频,然后再用频率计数器进行测频来计算准确度、老化率、日波动等指标。在频稳测试系统的设计中,信号源是一个重要的组成部分。其作用为产生高性能的输出频率(1~100 MHz)可设定的钟信号,与被测晶振的信号进行混频,输出差值在倍频环的范围内。目前,它广泛应用于信号源设计的直接数字频率合成(DDS)技术,具有输