本文是在传统存储器测试理论基础上对FLASH测试的尝试,该方法保留了传统方法的优点,较好地解决了FLASH存储器测试的困难。该方法方便快捷,流程简单,所有测试图形都可以事先生成,这样就可以直接加载到测试仪中,有利于直接应用于测试仪进行生产测试。