0 引 言 错误诊断是集成电路验证后期一个非常重要的阶段,它帮助设计者在一个错误芯片中预测错误点,因此可以减轻整个调试过程中的工作量。经过许多年的研究工作,组合电路的错误诊断正趋于成熟和实用化。这些方法主要分为两类:基于模拟的方法和符号方法。基于模拟的方法在每个错误向量对电路的模拟中,通过过滤掉非错误点而使含有错误点的区域逐渐被限定下来。符号方法不用明确列举错误向量,而是主要依赖于二叉决策图BDD,并提出错误源定位的充分必要条件。依据此充分必要条件,可直接定位错误点。该方法由于使用BDD技术,因而存在内存爆炸的隐患。 Boppana为错误诊断提出了一个概括的基于区域的模型,该模型可