随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域。与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求。数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来。 整个数字测试仪通常包含了五大部件:电源模块、通信模块、参数测量单元、数字测量单元和主控制模块。其中,参数测量单元和数字测量单元是整个数字测量仪的核心部件,参数测量单元直接决定着整个系统测试仪的模拟参数测量精度和应用范围。因此,设计出具备高精度、高速度的参数测量单元的数字测试仪具有很高挑战性。 本文提出了一种高速度高精度的参数测量单元。该单元应用于数