JTAG调试接口的结构如图1所示。它由测试访问端口TAP(Test Access Port)控制器、旁路(bypass)寄存器、指令寄存器和数据寄存器,以及与JTAG接口兼容的ARM架构处理器组成;处理器的每个引脚都有一个移位寄存单元,称为边界扫描单元BSC(Boundary Scan Cell),它将JTAG电路与处理器核逻辑电路联系起来,同时,隔离了处理器核逻辑电路与芯片引脚;所有的边界扫描单元构成了边界扫描寄存器BSR,该寄存器电路仅在进行JTAG测试有效,在处理器核正常工作时无效。 图1 JTAG调试接口示意图 (1)TAP(测试访问端口)控制器 TAP控制器对嵌