发光二极管(LED)常被用于各种现代电子设计与系统中,以提供影像显示与状态检视的功能。在机板日趋复杂之际,厂商纷纷寻求更多的测试功能,来检验每个组件。而这将会使得边界扫瞄测试(Boundary Scan Test;BST)演进到加入具备完整功能的内建自我测试(Build-in Self Test;BIST)技术。业者面临的挑战在于至今仍有一些组件的自动测试功能有限,必须依赖人工测试或目测来侦测故障状况。这类LED可制造出1美元成本的零组件,应用在售价达1万美元的线路卡或系统中,因此,零组件品质的优劣会直接影响顾客满意度,以及对整体产品品质的观感。 LED测试瓶颈 LED的故障通常可