嵌入式系统/ARM技术中的SOPC设计中的两种片上总线分析
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嵌入式系统ARM技术中的嵌入式计算系统
摘要:叙述嵌入式计算系统在开发阶段、生产环境和现场环境三种情况下的调测技术和方法,以及如何在硬件和软件设计中进行可观测性和可测试性设计。 关键词:在线测试 可观测性 可测试性 BDM JTAG 引言
16 2020-11-10 -
嵌入式系统ARM技术中的嵌入式系统综述
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28 2020-12-13 -
嵌入式系统ARM技术中的SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法
摘要:多片嵌入式SRAM的测试一般由存储器内建自测试MBIST设计来完成。为了迎接多片SRAM的测试给DFT设计带来的挑战。文中以一款基于SMIC O.13um工艺的OSD显示芯片为例,从覆盖率、面积
6 2020-11-06 -
嵌入式系统ARM技术中的高速的总线状态
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15 2020-11-17 -
嵌入式系统ARM技术中的LonWorks现场总线的特点
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20 2020-11-17 -
嵌入式系统ARM技术中的CAN总线的物理连接
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17 2020-11-17 -
嵌入式系统ARM技术中的CAN总线的协议层
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14 2020-11-17 -
嵌入式系统ARM技术中的Profibus现场总线的概述
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20 2020-11-17 -
嵌入式系统ARM技术中的USB的总线结构
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13 2020-11-18 -
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5 2020-11-18
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