电子测量中的Anritsu通用型测量仪器MS269xA系列增加四项新功能
Anritsu公司近日更新其高精确度的通用型测量仪器MS269xA系列,增加3D频谱分析仪功能、混附波发射量测、相位杂讯量测与AM/FM量测等四项新功能,以支援更有效率的研究发展与无线系统的疑难排解。 Anritsu高性能信号分析仪MS269xA系列可量测频率为50Hz至6GHz,其3D频谱分析仪功能提供了频率与信号强度对时间的3D变化资讯,最大撷取频宽高达125MHz,可稳定地检查突发信号和瞬时干扰信号。其相位杂讯量测范围从100Hz到1MHz,与以往仪器约每1分钟量测10个相位杂讯相较,新型MS269xA系列约每3秒便能囊括相同测试。 此外,该系列还提供混附波发射量
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