1 引 言 目前现有的测磁仪,采样使用的A/D大多为10位A/D,这使得其采样精度低,测量误差大,而且抗干扰能力差。CPU大都以单片机为主,供电电源为5 V,控制器功耗比较大;主频低使得指令执行周期长,计算速度慢,在一个工频周期内的采样点数少。在环境恶劣的工业现场,由于其传感器、放大器及隔离器件本身的技术原因,性能相对较差,容易受到干扰。而且现有测磁仪的功能大都比较简单,通常以单通道为主,外加一个霍尔传感器,一般只能测量试品外壁某一点的磁感应强度,对于铁芯内部等传感器无法到达的部位不能进行测量。显示终端主要以LED为主,一般只显示当前测量点的磁感应强度,在整个测量过程中没有数据记录功能,