安捷伦科技公司(NYSE: A)宣布,推出安捷伦Medalist VTEP v2.0,这是由非向量测试功能组成的套件,其中包括新的NPM测量技术。 这一测试功能是在世界上第一次包括NPM测量技术。用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路,而许多业内人士曾一度认为这超出了现有测试能力的范围。 随着信号在电路板上传输的速度越来越高,如在PCIe、DDR和SATA 连接器上,正确接地正变得日益关键。随着速度提高,接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低,误码率(BER)提高,放射电磁干扰(EMI)提高。 安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的