美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布用于器件级、圆片级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3.2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新圆片级打点功能,并以1fA电流测量分辨率支持吉时利最新2635和2636型系统数字源表,进一步增强ACS集成测试系统强大自动测试功能。这些新功能为用户提供最具性价比功能组合,实现极高测试灵活性和产能——其中包括面向实验室和生产配置的无人值守操作。 更大灵活性和产能 新一代半导体技术要求以更短时间和更少资源实现更强大测试与数据采集功能。满足这些需求最具性价比、最灵活性的测试平台仍将基