吉时利仪器公司(Keithley),宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用了先进的高性能电路,有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验,都能使用该仪器实现专业级的C-V测量。 4200-CVU附带最完整的测试库,极大提高了测量效率