电源技术中的一种DC DC芯片内建可测性设计

摘要:DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制,有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难。文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法,在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路,就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数。 关键词:电源管理;DC-DC;可测性设计;内建测试电路 引言 在便携式电子和消费电子产品中,对基于电池供电的电源管理的指标要求越来越高,其中高效率和低成本是最主要的两项指标。开关型集成DC-DC转换器由于具有很高的效率使其在很多场合成为首选的电源管理方案。然而,DC-DC的设计变得日益复杂,为了满足不同的应用需要,要求可以在PWM和PFM之间选