引言 在高速数据采集系统中,有两个关键的技术问题:一是信号的高速A/D变换,主要涉及到采用高速的A/D转换器对模拟信号进行变换,所选择的A/D、时钟质量以及PCB的设计等都对其有重要影响;另一个就是变换后的数据的高速缓存和提取,这个问题主要是解决如何在不同的应用场合选择合适的数据高速存储方案,来实现相对高的性价比。实际上,这两个问题是密切相关的。 随着近年来半导体集成电路技术的不断发展,NS、Atmel等公司都开发出了采样速度在1GS/S以上的ADC,如NS公司的ADC08D1000和Atmel公司的AT84AD001,它们都可以实现2GS/S采样率的拼合,转换后的数据经过内部降速