芯片测试

进化算法在芯片测试中的应用，徐琨，王琴，在集成电路芯片量产测试中，存在测试结果健壮性判定问题。虽然存在某些平均化方法，对测试数据进行统计，以发现测试数据异常的芯

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设计了一种新型方向性平面靶标。区别于现有方向性靶标，该靶标仅由简单的圆组成，因此，设计和加工简单。针对靶标结构特点，提出了基于共线性规则的拓扑定位算法，实验证明，该算法处理准确、稳定可靠。根据应用需求

摘要:由球栅阵列转向细节距BGA的行动正在受到降低封装尺寸要求的推动。此外,与增加功能有关的I/O数量的增加对降低阵列的间距进一步产生了压力。BGA封装在给定的面积当中将I/O的数量提高至化,对越来越

提出了一种精确测试电吸收调制激光器(EML)集成芯片高频特性的方法。待测芯片制作在带有微带线的热沉上,同时采用光探测器作为光电转换器,二者构成待测双口网络。被测双口网络的一端是共面线,使用微波探针作为

Magnum-V芯片测试成为内存性能优化的前沿探索，聚焦于内存操作的关键技术。内存性能一直是计算机领域关注的焦点之一，而Magnum-V芯片通过其独特的设计和创新的技术在这一领域取得了显著的突破。Ma

本文详细介绍了南方硅谷SV6358 wifi6芯片的rf测试方法和结果，包括信号波形、频谱分析等方面。此文档可供硬件工程师和RF工程师参考，以确保无线网络设备的正常运行。

Boost chip chip data

一、查看USB设备PID、VID、SN、制造商、产品名等； 二、查看USB设备主控芯片信息； 三、查看USB设备闪存芯片信息； 四、查看USB设备固件信息； 五、查看USB设备电流控制；