引 言 现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛,因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声,这一切使得设计调试和检验变成设计中最困难的一个流程。另一方面,当前几乎所有的像CPU、DSP、ASIC等高速芯片的总线,除了提供高速并行总线接口外,正迅速向高速串行接口的方向发展,FPGA也不例外。每一条物理链路的速度从600 Mbps到10 Gbps,高速I/O的测试和验证更成为传统专注于FPGA内部逻辑设计的设计人员所面临的巨大挑战。这些挑战使设计人员非常容易地将绝大部分设计时间放