芯片测试功能

集成电路模块ICI/O读写功能测试-Flash&EEPROM&CPU&SDRAM&LogicICetc

开源功能测试软件，小巧灵活

功能测试常用的方法，检查界面的方法，测试步骤各个方面等问题

包含了spring各种功能的测试： 1、ioc各种功能 2、aop各种通知的使用

益华计算机(Cadence) 宣布,工业技术研究院(ITRI)系统芯片技术发展中心(STC)成功地利用Cadence(r) 的Encounter(r) 数字IC设计平台以及其RTL-GDSII低功率设

短信猫测试软件 快速测试短信猫的芯片型号,收发短信情况

【LeadFrame】引线框架提供电路连接和Die的固定作用；主要材料为铜，会在上面进行镀银、NiPdAu等材料；L/F的制程有Etch和Stamp两种；易氧化，存放于氮气柜中，湿度小于40%

摘要:SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及

1. DIP 2. Open I/O 3. LCC 44/68/84 4. PGA 68/84 (11x11/17x17) 5. QFP 64/80/100/128(120)/144/160/208

1. 200 MHz Clock 測試能力 2. 1.5 ns Rise/Fall Time 5V Swing 3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗 4. pin count 224