研究和使用晶体材料时发现,材料内发生的过程和性能与晶体的某些方向(晶向 crystallographic directions)和原子构成的平面(晶面 crystallographic planes)有关。目前,通常用三个或四个指数来表征晶向和晶面,称为密勒指数(Miller Indices)。标定密勒指数时以晶胞为基础,x, y, z三轴系统的原点O放在晶胞的一个角上,三个轴与晶胞的三个边相重合(如图2.2-1所示)。对斜方、三斜晶系等,三个坐标轴则互相不垂直。 图2.2-1 晶胞与三轴坐标系 晶向 晶向可用点阵中两阵点间的连线或矢量来定义。三指数晶向可按例2.2