简 介 目前,研发和生产经理以及工程师们正面临着许多严峻的挑战,而且每个团体也有着自身独特的需求。例如在生产阶段,工程师需要缩短测试时间,同时提高吞吐率和产量。此时最重要的就是速度。而在研发阶段,最关键的则是能否更迅速地解决设计问题并减少重复作业。因此,在整个产品开发周期中,测试仪表的易用性至关重要。问题是这些“需求”与现有的测试和测量解决方案不太一致—特别是考虑到目前往往需要使用多种测试设备,才能正确表征元件。当元件位于晶圆之上时,表征甚至会更复杂。在这种情况下,用户绝不是只需把线缆简单地连接起来,就能进行正确测量。 随着加快研发进度、提高生产吞吐率、降低成本等要求给工程师带来