在如今的半导体领域,要确定集成电路器件的功能性是否满足要求,往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序,这时必须用到测时仪(TMU)。 什么是测时仪? 测时仪是一种半导体自动测试设备(ATE),负责测量两次事件之间间隔的时间或计算事件的个数。由于半导体产业中测试的复杂度日益增大,而且IC设计师希望保证他们所设计的IC在速度和响应上能够满足设计要求,因此大多数测时仪在出售时内部都自带一台TMU。不论测试设备是用于测试模拟IC、数字IC还是混合信号IC,TMU都是必需的。 通常,TMU用于测量频率/周期、传输延迟、建立和保持时间、上升/下降沿、占空比和信号斜率等交流参数。