在短波红外成像光谱技术的应用背景下, 对HgCdTe短波红外焦平面探测器的校正技术进行研究, 包括坏像元校正和非均匀性校正, 并提出先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则; 在标准辐射源下, 对正常像元的输出值进行正态分布拟合, 并通过3σ准则设定正常像元输出值阈值的方法, 确定探测器中坏像元的数量与位置, 然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求, 对坏像元进行光谱二邻域均值替换; 坏像元校正完成后, 再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果表明:探测器坏像元得到有效剔除, 坏像元输出值得到良好校正, 且非均匀性校正效果明显, 图像细节更加丰富。