DDR内存已成为系统DRAM的主要技术,而DDR系统的验证则是新的数字系统设计最具挑战性且费时的工作之一。逻辑分析仪是协助工程师验证这些系统的重要工具,但在成本与空间的限制下,逻辑分析仪探测技术变成了一个值得深思的问题。理想上,DDR的可测试性应成为最终设计的一部份,以利于在测试台进行系统的验证,因为在整个产品生命周期中的工程设计与委外代工都会增加成本。然而碍于逻辑分析仪探测点的电气负载与空间需求,这种作法直到今天仍不可行。新的免接头式逻辑分析仪探测技术使DDR可测试性得以结合到产品的最初与最终阶段,对成本、电路板空间或信号完整性的影响十分有限。免接头式探测技术最近,一些逻辑分析仪厂商推出了一