本文报道在研制熔接光纤耦合器中所建立的动态监测系统。这个系统由于利用了时间延迟技术,不仅能较高精度地数字显示成品光纤耦合器的静态分束比;而且能在器件的制造过程中监测分束比的变化,进而控制工艺,大大提高器件的成品率。