传感器故障检测 分类问题陈述: 建立基于给定训练数据的预测晶圆传感器质量的分类方法。 资料说明: 客户端将在给定位置分批发送多组文件中的数据。 数据将包含晶片名称和每个晶片的590列不同传感器值。 最后一列将为每个晶圆提供“好/坏”值。 “好/坏”列将具有两个唯一值+1和-1。 “ +1”代表不良晶片。 “ -1”代表好晶片。 除了培训文件,我们还需要客户端提供一个“ schema”(事实来源)文件,其中包含有关培训文件的所有相关信息,例如: 文件名,文件名中的日期长度值,文件名中的时间长度值,列数,列名及其数据类型。 资料验证 在此步骤中,我们对给定的训练文件集执行不同的验证集。