提出了一种新的相位去包裹算法,主要针对那些条纹数少,条纹质量相对较好,仅仅是由于少数低调制度点、散斑点、噪声或灰尘引起的去包裹失败的情形。该算法基于一维FFT(快速傅里叶变换),简单且易于实现。