美帝麻省理工学院林肯实验室的研究人员用激光来分析集成电路中各个元器件的性能。由于集成电路已被当作快速调换部分一样地看待,它们的性能只能在输入端和输出端测量,这就给设计、质量控制和寻找障碍增加了不必要的困难。