为克服测量波片相位延迟量过程中难以精确判定消光位置的缺点,提出相对角度法测量波片的相位延迟量。与传统测量方法相比,不需要通过寻找光强极值点位置来调整光学元件的方位角,消除了方位角定位误差对测量结果的影响,降低了测量难度,提高了测量精度。运用Mueller矩阵对该测量方法进行理论分析,推导出测量公式。实测了适用波长λ=532 nm的1/4波片的相位延迟量,测量结果的平均值和标准差分别为90.072°和0.42°,与波片的标称值和精度相符,很好地验证了测量方法的有效性。