基于全矢量有限元法,在1550 nm波段对掺锗芯光子晶体光纤(PCF)与普通单模光纤(SMF)的熔接损耗进行了理论分析,指出模场失配是造成两者熔接损耗大的最主要因素;进而提取自制的光子晶体光纤实际截面数据,更准确地估计出由模场失配引入的熔接损耗。采用电弧放电熔接技术, 通过反复实验给出了一组优化的熔接参数,并根据自制的光子晶体光纤具有掺锗芯子而采用重焊操作使得包层孔适量缩塌,可以有效地减小两种光纤的模场失配进而降低了熔接损耗,实现了光子晶体光纤和普通单模光纤的低损耗熔接。