下一代超快I V测量技术

与直流电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)测量一样,是否能够进行超快I-V测量对于从事新材料、器件或工艺研发特征分析实验室的所有人都变得十分必要。进行超快I-V测量需要产生高速脉冲波形,并且在待测器件可能发生松弛之前测量产生的信号。