用单波长椭圆偏光仪与分光光度计相结合,构成一种简便实用的测量方法,可以测出常用介质薄膜在任一波长的折射率。分析指出,适当选择薄膜的位相厚度,可使折射率测量误差<1×10~(-2),这对通常的膜系设计和镀制巳足够精确。