以238uP为激发源,测量了不同压力下Ne、He-Ne、He-Ne-Ar体系的氛光谱,并以此为基础计算了Ne的2p53p的10个2P能级的辐射率I、相对集居数N、填充率W,总结出相应的Ne压力、He压力和Ar压力对Ne的585.2 nm谱线强度和10个2P能级填充的影响规律。