分析了基片缺陷导致磁光盘产生原始误码的原因。首次建立了磁光盘读出光场与基片杂质特性的数学模型,利用数值分析方法研究了读出信号畸变、误码长度与杂质特性的关系。分析结果表明,一定大小的基片杂质是否产生误码,与杂质距记录层的距离、杂质距读写光斑的距离以及读出阈值电平等因素有关。