一种扫描测试及自动测试向量生成方法,张志晗,蒋剑飞,随着集成电路在可穿戴设备、物联网、医疗、工业控制、无人驾驶等方面的应用的飞速发展,对各类传感器、电源管理芯片的需求与日俱