U盘坏块、扩容、读写速度检测软件
U盘、SSD、各种存储卡等都是采用Flash半导体芯片作为存储介质的,目前大部分的半导体存储设备都是采用MLC Flash芯片,相对来说更容易出现坏块,引起读写错误,从而导致重要数据损坏或设备工作不正常。h2testw是德国人写的一个windows下免费的Flash坏块检测软件,可以检测目前所有的半导体存储设备的坏块情况,该软件通过向选择的目录内写入自行产生的单个最大1G的文件然后读出校验的方式确定坏块,准确性不容怀疑;同时,该软件还能测试存储设备的实际读写速度
文件列表
芯片测试.rar
(预估有个2文件)
芯片测试
h2testw.exe
409KB
h2testw图文教程.doc
315KB
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