暂无评论
光学显微镜物镜成像都源于高斯公式1/ι'-1/ι'=1/f'。对于定焦距物镜来说,系统一旦确定,焦距f'不变,像距ι'也不变。因此,只有靠调整物面沿光轴的位置,才能得到清晰的物镜像(一般称为物镜初次像
本图像采集处理系统实现了在上位机中对图像数据的采、显示和处理的可 视化操作，与自行设计的基于USB2.0的CMOS数码显微镜硬件相匹配，分析解决 了USB接口的数据传输和CMOS图像采集匹配，图像采集
原子力显微镜(AFM)是评价亚纳米级表面粗糙度σRMS最主要的测试仪器,但其测试结果会因采样条件(采样间距、采样点数)及测量点位置变化而改变。以AFM测试超光滑光学基底随机表面为例,应用累积功率谱理论
利用电子束热蒸发技术在两种不同粗糙度的K9玻璃和一批单晶硅基底上沉积了单层二氧化钛(TiO2)薄膜,并对这些样片进行了氧离子后处理。采用泰勒-霍普森相关相干表面轮廓粗糙度仪(Talysurf CCI)
采用激光照射粗糙工件表面形成散斑图像,通过自相关函数分析散斑图像的二阶统计特性,使用分形算法提取散斑图像自相关函数矩阵的参数,建立分形维数与表面粗糙度对应的样本集合。用最小二乘法多项式拟合该样本集合,
粗糙表面在多波长激光束照射下形成的多色散斑场显示出散斑延长效应,利用此效应可以测量表面粗糙度,并且测量结果在一定条件下不受粗糙表面横向特征的影响。通过模拟计算随机粗糙表面的多色散斑场,以空间平均的多色
JJF 1105-2003 触针式表面粗糙度测量仪校准规范pdf,JJF 1105-2003 触针式表面粗糙度测量仪校准规范
粗糙表面产生的多波长远场散斑图案的散斑延长现象可以用来进行表面粗糙度测量。以抛喷丸表面为研究对象,具体介绍了多波长散斑自相关表面粗糙度测量方法。根据多波长散斑图案的各向同性径向辐射的特征,提出了适用的
显微镜自动调焦系统的图像采集系统的设计，郝海平，李相平，本文主要介绍一种用于显微镜自动调焦系统的图象采集系统的设计,核心是图象的采集和显示功能的实现。即通过显微镜将被观察物体(细�
关于初中显微镜与望远镜教学课件,用flash9.0以上版本播放
暂无评论