电荷转移模型是解释分子间单重态激子裂变过程的一个重要理论机制, 然而对此模型的合理性仍然存在争论, 对模型中涉及的电子转移过程也缺乏研究. 本实验以具有激子裂变特性的红荧烯分子为研究对象, 通过双源共蒸发的方法制备了4个系列红荧烯掺杂的混合薄膜, 并在室温下分别测量了混合薄膜的光致发光谱及其瞬态衰减曲线. 理论上, 基于“S1+S0:left-right_arrow:1(TT)i :left-right_arrow: T1+T1”三状态反应模型, 采用耦合的速率方程组对所有的发光衰减曲线进行了拟合, 得到了激子裂变过程中所涉及的重要速率常数. 根据每种材料的摩尔质量与摩尔体积, 计算了混合薄膜中红荧烯分子的平均间距. 实验发现: 红荧烯分子间的电子转移过程具有量子隧穿的特点, 激子裂变过程的速率随分子间距的增大呈现出明显的指数下降规律. 上述结果符合电荷转移模型的特征, 可作为支持电荷转移模型的实验证据, 这对于澄清激子裂变的微观图像具有重要价值.