测试测量技术基于DSP的多频带混合信号测试系统方案随着数字化浪潮的深入,具有混合信号功能的芯片越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域的MODEM(如ADSL),CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG,DVD芯片,都是具有混合信号功能的芯片,其特点是处理速度高、覆盖的频率范围宽,芯片的升级换代周期日益缩短。这就要求测试系统具有更高的性能和更宽的频带范围,而且需要灵活的架构来应对不断升级的芯片测试需求,以便有效降低新器件的测试成本。此外,混合信号芯片种类繁多,各种具有混合信号的芯片已经广泛运用到生产和生活的各个领域,而不同的应用领域,其工作的频率和所要求的精度也各不相同,这就要求在对混合信号进行测试时,抓住其共性来提出测试方案。所有混合信号芯片的一个最基本的共性就是其内部均具有AD/DA,一些混合信号芯片还包括PLL模块。本文所论述的混合信号测试仅涉及到ADC和DAC通路。一般,对于ADC通路,测试系统需要通过波形发生器产生适当的激励信号,同时,通过自身的数字通道采集ADC的输出信号并进行运算以获得测试结果;对于DAC通路,测试系统需要通过数字通道产生适当的激励信号,同时,通过自身的波形采样器采集DAC的输出信号并进行运算获得测试结果。但无论对于ADC还是DAC测试,都要求系统的模拟模块,即波形发生器和波形采样器,与系统的数字通道同步,才能确保测试的准确性。此外,系统还需提供丰富的内置函数,迅速完成对采集信号的运算,才能实现对ADC/DAC的静态和动态特性的测试。因此,在对混合信号芯片的测试过程中,一般需要数字通道、波形发生器、波形分析器、直流电源、时隙分析器、系统时钟等模块,其中波形发生器和波形分析器是决定系统速度和精度的关键环